产品简介
NSi8121 系列是纳芯微电子(Novosense)推出的高可靠性双通道数字隔离器,基于自主研发的第三代 电容隔离技术(Capacitive Isolation),在极小的 SOIC-8 封装内实现高达 3.75kVrms 的隔离耐压(部分型号可达 5kVrms),支持 DC~150Mbps 高速数据传输, 典型传播延时仅 9ns,功耗低至 1.5mA/ch。 产品通过 AEC-Q100 Grade 1 汽车级认证、UL1577、VDE 0884-17(IEC 60747-17)等多项国际安规认证, 隔离栅设计寿命超过 60 年,是替代传统光耦的理想方案。
核心优势
产品系列型号一览
| 型号 | 隔离耐压 | 通道配置 | 默认输出 | 封装 | 典型延时 | 说明 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| NSi8121N0 | 3.75kVrms | 双正向(2F) | 高电平 | SOIC-8 | 9ns | 标准通用型号 |
| NSi8121N1 | 3.75kVrms | 双正向(2F) | 高电平 | SOIC-8 | 9ns | 输出默认状态配置 |
| NSi8122N1 | 3.75kVrms | 1正向+1反向(1F1R) | 高电平 | SOIC-8 | 15ns | 适合双向总线隔离 |
| NSi8121(宽体) | 5kVrms | 双正向(2F) | 高/低可选 | SOIC-16 | 9ns | 高隔离耐压版本 |
典型应用领域
产品参数
| 参数 | 符号 | 典型值 | 单位 | 说明 |
|---|---|---|---|---|
| 通道数 | — | 2 | 通道 | 双通道配置 |
| 数据速率 | DR | DC~150 | Mbps | 最高支持 150Mbps,NRZ 码 |
| 传播延时(典型) | tPHL/tPLH | 9 | ns | @5V,CL=15pF |
| 脉宽失真 | PWD | <3 | ns | 典型值 |
| 通道间延迟匹配 | tSK | 3 | ns | 最大值 |
| 封装 | — | SOIC-8 | — | 窄体,引脚间距 1.27mm |
| PCB 占用面积 | — | ≈20 | mm² | 约 5.0×4.0mm |
| 通道方向配置 | — | 多种 | — | 2F / 1F1R 可选,支持上电复位 |
| 默认输出 | — | 高/低 | — | 可通过型号选择,默认高电平 |
| 参数 | 符号 | 最小 | 典型 | 最大 | 单位 | 说明 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 电源电压 | VCC1, VCC2 | 2.5 | 3.3/5.0 | 5.5 | V | 双电源独立供电,可不同电平 |
| 静态电流(每通道) | IDD | — | 1.5 | — | mA | @1Mbps,无负载 |
| 供电电流(150Mbps) | IDD | — | 4.5 | — | mA/ch | @150Mbps |
| 待机电流 | IDDQ | — | 0.1 | — | mA | 无信号输入时 |
| 输入高电平 | VIH | 0.7×VCC | — | — | V | — |
| 输入低电平 | VIL | — | — | 0.3×VCC | V | — |
| 输出高驱动电流 | IOH | -4 | — | — | mA | @VOL=0.4V |
| 输出低驱动电流 | IOL | 4 | — | — | mA | @VOH=VCC-0.4V |
| 参数 | 符号 | 最小 | 典型 | 最大 | 单位 | 说明 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 最大数据传输速率 | DR | 150 | — | — | Mbps | NRZ 码 |
| 上升沿时间 | tR | — | 2 | — | ns | @5V,CL=15pF |
| 下降沿时间 | tF | — | 2 | — | ns | @5V,CL=15pF |
| 共模瞬态抗扰度 | CMTI | ±100 | ±150 | — | kV/μs | 典型值 ±150kV/μs |
| ESD(HBM) | — | ±6 | — | — | kV | 芯片级 HBM |
| ESD(CDM) | — | ±1.5 | — | — | kV | 元件充电模型 |
| 浪涌(Surge) | — | — | ±4 | — | kV | 系统级 Surge 抗扰 |
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 | 测试条件 |
|---|---|---|---|---|
| 隔离耐压 | VISO | 3,750 | Vrms | 50/60Hz, 1分钟(UL1577) |
| 峰值隔离电压 | VIORM | 560 | Vpeak | VDE 0884-17 |
| 浪涌测试电压 | VIOSM | 7,000 | Vpeak | 1.2/50μs 波形 |
| 隔离阻抗 | RISO | >10¹² | Ω | — |
| 隔离电容 | CISO | <1 | pF | @1MHz |
| 隔离栅寿命 | — | >60 | 年 | 额定工作电压下 |
| 爬电距离 | — | >4.0 | mm | SOIC-8 窄体 |
| 参数 | 最小 | 最大 | 单位 | 说明 |
|---|---|---|---|---|
| 电源电压(VCC1, VCC2) | -0.5 | 7.0 | V | 绝对最大值 |
| 输入电压(逻辑输入) | -0.5 | VCC+0.5 | V | — |
| 输出电压 | -0.5 | VCC+0.5 | V | — |
| 平均输出电流 | -10 | +10 | mA | — |
| 存储温度 | -65 | +150 | ℃ | — |
| 工作温度 | -40 | +125 | ℃ | AEC-Q100 Grade 1 |
| 焊接温度(回流焊) | — | 260 | ℃ | 峰值 10 秒 |
| ESD(HBM) | -6 | +6 | kV | 人体模型 |
与光耦替代对比表
| 特性 | NSi8121(数字隔离器) | 传统光耦 | 优势 |
|---|---|---|---|
| 隔离寿命 | >60 年 | LED 老化,约 5~10 年 | ✅ 长 6 倍以上 |
| 传播延时 | 9ns(典型) | 3~20μs | ✅ 快 300 倍以上 |
| 数据速率 | DC~150Mbps | DC~250kHz | ✅ 宽 600 倍 |
| CMTI | 150kV/μs | 10~30kV/μs | ✅ 抗扰性提升 5 倍 |
| 工作电流 | 1.5mA/ch | 5~20mA/ch | ✅ 功耗降低 70%+ |
| 时序特性 | 固定,通道匹配 3ns | CTR 离散性大 | ✅ 时序可靠稳定 |
| 温度范围 | -40~125℃ | -40~85℃ | ✅ 宽温工作 |
| 隔离耐压 | 3.75kVrms | 3.75kVrms | ✅ 同等级 |
产品详情
技术原理 — 第三代电容隔离
NSi8121 系列基于纳芯微自主研发的第三代电容隔离技术(Capacitive Isolation)。 该技术采用 SiO₂ 作为隔离介质,通过片上高频变压器实现数字信号的跨越隔离栅传输。 输入端采用OOK调制(On-Off Keying)将数字信号调制到高频载波上, 通过隔离电容传输到副边后,由解调电路还原为原始数字信号。 整个传输过程无光电器件、无 LED 老化、无光学效率衰减, 实现了真正意义上超长寿命、超高速、超低功耗的工业级数字隔离。
技术亮点
封装与尺寸(SOIC-8)
典型应用电路
推荐应用电路注意事项:
引脚定义(SOIC-8)
| PIN | 名称 | 类型 | 描述 |
|---|---|---|---|
| 1 | VCC1 | 电源 | 原边电源输入(2.5~5.5V) |
| 2 | GND1 | 地 | 原边参考地 |
| 3 | INA | 数字输入 | 通道 A 输入(原边),内置施密特触发器 |
| 4 | INB | 数字输入 | 通道 B 输入(原边),内置施密特触发器 |
| 5 | GND2 | 地 | 副边参考地,与 GND1 电气隔离 |
| 6 | OUTB | 数字输出 | 通道 B 输出(副边),推挽式输出 |
| 7 | OUTA | 数字输出 | 通道 A 输出(副边),推挽式输出 |
| 8 | VCC2 | 电源 | 副边电源输入(2.5~5.5V) |
| PIN | 名称 | 类型 | 描述 |
|---|---|---|---|
| 1 | VCC1 | 电源 | 原边电源输入(2.5~5.5V) |
| 2 | GND1 | 地 | 原边参考地 |
| 3 | INA | 数字输入 | 通道 A 正向输入(原边) |
| 4 | OUTB | 数字输出 | 通道 B 反向输出(原边侧) |
| 5 | GND2 | 地 | 副边参考地 |
| 6 | INB | 数字输入 | 通道 B 反向输入(副边侧) |
| 7 | OUTA | 数字输出 | 通道 A 正向输出(副边) |
| 8 | VCC2 | 电源 | 副边电源输入(2.5~5.5V) |
PCB 布局建议
数据手册
数据手册目录
第二章 产品型号列表 — NSi8121N0/N1、NSi8122N1 规格对照
第三章 引脚定义 — SOIC-8 引脚功能说明
第四章 绝对最大额定值 — 极限参数及注意事项
第五章 推荐工作条件 — 正常工作电气参数范围
第七章 交流电气特性 — 传播延时、CMTI、数据速率
第八章 隔离特性 — 隔离耐压、寿命、认证标准
第九章 典型应用电路 — 推荐电路、PCB 布局
第十章 封装尺寸 — SOIC-8 外形图与焊盘建议
关键指标速览
| 指标 | 参数 | 说明 |
|---|---|---|
| 隔离耐压 | 3.75kVrms(1分钟) | UL1577 / VDE 0884-17 |
| 共模瞬态抗扰度 | 150kV/μs | 典型值,有效抑制高速噪声 |
| 传播延时 | 9ns(典型) | @5V,CL=15pF |
| 最高数据速率 | 150Mbps | NRZ 码,支持高速协议 |
| 静态电流 | 1.5mA/ch | @1Mbps,无负载,显著低于光耦 |
| 工作温度 | -40~+125℃ | AEC-Q100 Grade 1 汽车级认证 |
| 封装 | SOIC-8 | PIN-TO-PIN 兼容主流竞品 |
| 隔离寿命 | >60 年 | 额定工作电压下 |
应用方案
典型应用拓扑
| 场景 | 推荐型号 | 通道配置 | 说明 |
|---|---|---|---|
| GPIO 扩展隔离 | NSi8121N0 | 2F(双正向) | MCU 输出扩展到多个负载,方向固定 |
| 双向 GPIO 隔离 | NSi8122N1 | 1F1R(正向+反向) | 双向控制信号,如使能/故障反馈 |
| SPI 主从隔离 | NSi8121N0 ×2 | 4 通道(2×2F) | SCLK/MOSI/MISO 均隔离,片选独立处理 |
| RS-485 收发隔离 | NSi8122N1 | 1F1R | TXD 隔离输入,RXD 隔离输出,反馈控制 |
| 域控制器隔离 | NSi8121N1 | 2F(双正向) | 汽车域控制器信号隔离,AEC-Q100 认证 |